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詳細(xì)摘要： 美國FEI掃描電子顯微鏡主要特點(diǎn)：1.FEI ESEM（環(huán)境掃描電鏡）技術(shù),可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對(duì)各種樣品進(jìn)行觀察和分析。2.所有真空條件下的二次...
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詳細(xì)摘要： 日本三豐工具顯微鏡日本三豐TM系列工具顯微鏡適合于測(cè)量加工件的長(zhǎng)度、直徑和角度，小型化設(shè)計(jì)，十分適于在車間等狹小空間使用。
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