JIMA RT RC-05X射線分辨率測(cè)試卡

JIMA（日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)），致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。

JIMA RT RC-05X射線分辨率測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm

• 芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
• 圖案布局：T型 （3-10μm）
• I 型 （15-50μm）
• 線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案,
• 3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）
• 15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)

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