FISCHERSCOPE®-X-RAYXDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀：

        FISCHERSCOPE®-X-RAYXDLM®儀器是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。 它們構(gòu)成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發(fā)的下一步。 像它們的前輩一樣，它們特別適合于無損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產(chǎn)的零件和印制板上的自動(dòng)測量。有三個(gè)型號(hào)：XDLM 231具有平面支撐臺(tái)，XDLM 232具有手動(dòng)操作的X / Y臺(tái)。 XDLM 237配備了一個(gè)電動(dòng)X / Y平臺(tái)，當(dāng)打開防護(hù)罩時(shí)，該平臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到裝載位置。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器，準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號(hào)的X射線源采用微聚焦管，可以測量細(xì)小的部件，對低輻射組分有較好的激勵(lì)作用。此外，XDLM配備了可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造*佳的激勵(lì)條件。

XDLM 231 菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀

兩種型號(hào)的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點(diǎn)，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計(jì)數(shù)率，確保良好的重復(fù)精度。比較XUL和XULM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設(shè)計(jì)為用戶友好的臺(tái)式機(jī)，使用模塊化結(jié)構(gòu)，也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺(tái)和Z軸以適應(yīng)不同的需求。

特征：
    • 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條件:50KV,50W
    • X射線探測器采用比例接收器
    • 準(zhǔn)直器：固定或4個(gè)自動(dòng)切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
    • 基本濾片：固定或3個(gè)自動(dòng)切換
    • 測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
    • 固定樣品支撐臺(tái) ，手動(dòng)XY工作臺(tái)
    • 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。刻度線經(jīng)過校準(zhǔn)，顯示實(shí)際測量點(diǎn)大小。
    • 設(shè)計(jì)獲得許可，防護(hù)全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域:
    • 大批量電鍍件測量
    • 防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
    • 電鍍行業(yè)槽液分析
    • 線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
    • 測量接插件和觸點(diǎn)的鍍層
    • 電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測量
    • 黃金，珠寶和手表行業(yè)