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上海納騰儀器有限公司
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光誘導力顯微鏡基于原子力顯微鏡平臺,通過外置激光以一定的頻率激發在探針和樣品上，探針和樣品因此受到誘導偶極。AFM探針可以通過頻率調制獲得樣品內部的電子能級變化，振動能級及轉動能級變化。再將頻率調制后得到的結果進行傅立葉變化，以獲得相應的紫外可見吸收光譜或紅外光譜。得益于探針的曲率半徑，其光譜的空間分辨率Z大可達10nm。PiFM也能和拉曼光譜進行聯用，并具備散射式掃描近場光學顯微鏡功能。
光誘導力顯微鏡基于原子力顯微鏡平臺,通過外置激光以一定的頻率激發在探針和樣品上，探針和樣品因此受到誘導偶極。AFM探針可以通過頻率調制獲得樣品內部的電子能級變化，振動能級及轉動能級變化。再將頻率調制后得到的結果進行傅立葉變化，以獲得相應的紫外可見吸收光譜或紅外光譜。得益于探針的曲率半徑，其光譜的空間分辨率zui大可達10nm。PiFM也能和拉曼光譜進行聯用，并具備散射式掃描近場光學顯微鏡功能。
光誘導力顯微鏡（Photo-induced Force Microscopy），同時獲得形貌以及光誘導力圖像
Nano-UV & Vis，zui高10nm空間分辨紫外可見吸收光譜/分光光度計
Nano-IR，zui高10nm空間分辨的紅外光譜
Nano Hyperspectral Imaging，納米空間分辨的高光譜（連續波段，高光譜分辨率）
s-SNOM，散射式掃描近場光學顯微鏡
Nano-Raman/TERS，zui高10nm空間分辨的針尖拉曼光譜
正置與倒置光路一體式設計，適合透明與不透明樣品
支持多種反饋方式，AFM激光反饋（OBD），AFM音叉反饋（TF）
支持紫外、可見、紅外、太赫茲波段測試
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