電阻率計報價 返回列表頁

玉崎現貨  NITTOSEIKO日東精工  低電阻率計

玉崎現貨  NITTOSEIKO日東精工  低電阻率計

目的

Loresta-GXII是一款測量電阻率的測量儀器，電阻率是材料的評估標準之一。

　隨著科學技術的發展，在研發、生產技術、質量控制等領域，越來越需要能夠輕松、快速、日益嚴格、高精度地管理材料。其中，電阻率（表面、體積、電導率）是表示材料狀態和性質的指標。 Loresta-GXII 是一種可以使用校正系數輕松準確地測量電阻率的設備。

  該裝置采用符合JIS K 7194的測量方法，可以使用各種探頭測量導電塑料、ITO薄膜和硅晶片等多種材料。

  與傳統的4端子法不同，無需為測量對象準備電極，使用本公司提供的各種4點探頭即可一鍵測量電阻率。

主要測量目標

■導電塑料、電磁屏蔽材料、硅片、導電橡膠、
導電涂料、漿料、油墨、金屬薄膜、ITO玻璃、薄膜等。

特征

可以隨時隨地以高精度測量低電阻區域的表面電阻率、體積電阻率（比電阻）和電導率。

• 與Loresta GP（10 -3至 10 7 ）相比，測量范圍從 10 -4擴大至 10 7 Ω

• 通過改變電流方向即可測量硅片

• 恒定電流可變功能（可使用微小電流進行樣品測量）

• 可輸出2000個測量結果至USB存儲器

• 通過觸摸屏提高操作性

選項

探頭 *GX 探頭不能連接到 GXⅡ。

名稱/產品簡稱GX 用 ASP 探頭 RMH110
，GX Ⅱ用 GP ASR 探頭 RMH501

規格
符合 JIS K 7194
引腳間距：5 毫米
引腳尖：0.37R x 4 件
彈簧壓力：220 克/件
應用特性包括
導電塑料、導電涂料、薄膜等。 標準探頭兼容 JIS K7194。

名稱/產品縮寫

ESP 探頭 RMH114 for GX,GP
ESR 探頭
RMH502 for GXⅡ

規格
引腳間：5mm
引腳尖：φ2mm x 4
彈簧壓力：230g/件    
應用
異質樣品，如混合有碳粉、金屬粉末等的導電塑料（特別是注塑產品）
特點
引腳尖直徑為 2 mm 由于表面形狀，施加的電流容易流動。

名稱/產品簡稱

GX用LSP探頭 RMH116 ，GXⅡ用GP
LSR探頭
RMH503

規格
引腳間距：5mm
引腳尖：球 D2mm x 4 件彈簧壓力： 140g
/件  
應用
導電橡膠和薄膜等 軟樣品 很難卡在橡膠中。

名稱/產品代碼

PSP 探頭 RMH112 for GX,GP
PSR 探頭
RMH504 for GXⅡ

規格
引腳間距：1.5mm引腳尖
：0.26R x 4
彈簧壓力：95g/個
應用
薄膜、小樣品、狹窄空間
特點
薄膜用標準探針，引腳很細，引腳之間的距離為 1.5 mm 。

名稱/產品簡稱

GX用QP2探頭 RMH119 ，GXⅡ用GP
QR探頭
RMH505

規格
針腳間：1.5mm
針尖：0.26R x 4
彈簧壓力：95g/個
應用 方形，特別適用于
小樣品和狹窄空間。電阻值約為4針串聯引腳的一半，手持式無法支持校正系數，因此不建議使用。

名稱/產品簡稱

GX用BSP探頭 RMH111 ，GXⅡ用GP
BSR探頭
RMH506

規格
： 引腳間距：2.5mm
引腳尖：0.37R x 4
彈簧壓力：170g/引腳
應用：
兩個遠點之間的測量、前后表面之間的測量（層間電阻）、
4 個
引腳分為 2 個，像測試儀一樣測量右手拿著一張，左手拿著一張。至于主機，GXII 更方便，因為可以使用腳踏開關。

注）無法測量電阻率。

名稱/產品簡稱

GX用NSCP探頭 RMJ202 ，GXⅡ用GP
NSCR探頭
RMH507

規格
： 引腳間距：1.0mm
引腳尖：0.04R x 4 件
彈簧壓力：250g/件僅
適用于硅片，適用于
表面堅硬光滑的樣品，如陶瓷 引腳材料為碳化鎢，尖鋒利，堅固彈簧壓力。

名稱/產品縮寫
TFP 探頭
RMJ217 for GX（已售完）

規格
引腳間：1.0mm
引腳尖：0.15R x 4
彈簧壓力：50g/個
應用
用于玻璃基板上的硅片或薄膜

名稱/產品代碼
AP2 探頭
RMH333 for GX,GP
AR 探頭
RMH508 for GXⅡ

規格
引腳間：10mm
引腳尖φ2 x 2
彈簧壓力：230g/引腳
應用
用于 表面處理鋼板和鎂合金等化學轉化涂層
使用
2 端子法進行測量，包括接觸電阻，導致電阻值較高。由于電阻值不正確，我們不會將其轉換為電阻率。主要用于定性評價。
注）無法測量電阻率。

名稱/產品簡稱

GX 用 BP 探頭 RMH118 ，GX Ⅱ用 GP
BR 探頭
RMH509

規格
針尖：φ2 x 2
彈簧壓力：200g/針
用途
2 點探頭
用于表面處理鋼板和鎂合金等化學轉化涂層上兩個遠點之間的測量 用于使用 2 端子
法 注）無法測量電阻率。