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近紅外光譜 NIRFlex N-500

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模塊化FT-NIR光譜儀近紅外NIRFlexN-500是模塊化FT-NIR光譜儀，用于為應(yīng)用科學(xué)和各個(gè)行業(yè)的QC、研發(fā)提供可靠的結(jié)果。近紅外NIRFlexN-500提供廣泛的測(cè)量單元和附件，實(shí)現(xiàn)靈活的性能。預(yù)期使用壽命:雙燈模塊2x6000h靈活性:不同的測(cè)量單元光譜儀類(lèi)型:極化FT-NIR

詳細(xì)介紹

BUCHI 近紅外光譜 NIRFlex N-500

模塊化 FT-NIR 光譜儀
近紅外 NIRFlex N-500 是模塊化 FT-NIR 光譜儀，用于為應(yīng)用科學(xué)和各個(gè)行業(yè)的 QC、研發(fā)提供可靠的結(jié)果。近紅外 NIRFlex N-500 提供廣泛的測(cè)量單元和附件，實(shí)現(xiàn)靈活的性能。

預(yù)期使用壽命:雙燈模塊 2 x 6000 h
靈活性:不同的測(cè)量單元
光譜儀類(lèi)型:極化 FT-NIR

快速、安全、簡(jiǎn)單

這款模塊化的 FT-NIR 光譜儀可在幾秒鐘內(nèi)同時(shí)提供多個(gè)參數(shù)的結(jié)果。系統(tǒng)使用中不涉及化學(xué)品和溶劑，可幫助您節(jié)省成本并提高流程的安全性。近紅外 NIRFlex N-500 的操作簡(jiǎn)單、直觀，實(shí)現(xiàn)的用戶體驗(yàn)。

快速、安全、簡(jiǎn)單

高效

得益于近紅外 NIRFlex N-500 的快速分析結(jié)果，可快速優(yōu)化流程。模塊化 FT-NIR 光譜儀是一款經(jīng)濟(jì)高效的解決方案，擁有成本低。您可以自行更換常用備件，且不需要定期重新校準(zhǔn)儀器。通過(guò)雙燈保護(hù)的連續(xù)操作，提高流程效率。

可靠且靈活

得益于近紅外 NIRFlex N-500 的波長(zhǎng)精度，實(shí)現(xiàn)精確的結(jié)果。可在儀器之間輕松直接地轉(zhuǎn)移校準(zhǔn)。可通過(guò)專(zhuān)門(mén)的測(cè)量選項(xiàng)精確分析不同的樣品類(lèi)型，包括固體、粉末、片劑、顆粒、膏體、液體形式。

可靠且靈活

特性

雙燈模式

在 NIR 光譜儀的可用性方面，BUCHI 已經(jīng)樹(shù)立了新的標(biāo)準(zhǔn)。我們的 NIR 光譜儀配備有雙燈模式，在這種模式下，如果主光源發(fā)生故障，會(huì)自動(dòng)切換到第二個(gè)集成式燈。這樣可將儀器故障的風(fēng)險(xiǎn)降至，并預(yù)留充足的時(shí)間來(lái)定購(gòu)備用燈。同時(shí)，您可繼續(xù)測(cè)量工作，不會(huì)受到更多干擾。

雙燈模式

BUCHI 偏振干涉儀

BUCHI 通過(guò)使用折光率的晶體已經(jīng)成功改造了石英偏振干涉儀。這樣可以提供分辨率和緊湊設(shè)計(jì)，同時(shí)又保持了對(duì)機(jī)械擾動(dòng)不敏感的優(yōu)點(diǎn)。該干涉儀在惡劣環(huán)境中能夠保持性能的原因在于：在厚度可變的雙折射晶體中，利用兩個(gè)光束的空間運(yùn)動(dòng)偏差和光路偏移。在 Michelson 型干涉儀中，機(jī)械形變會(huì)直接影響干涉效果，但在晶體干涉儀中，這種影響會(huì)被降低 10 至 20 倍。

BUCHI 偏振干涉儀

一體化標(biāo)準(zhǔn)

每個(gè) BUCHI FT-NIR 光譜儀都配備有各種灰色濾光片并設(shè)置了一種波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)。它們使用專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的軟件模塊，能夠?qū)ΣㄩL(zhǎng)精度、信噪比和線性度進(jìn)行檢查。這些測(cè)量結(jié)果構(gòu)成了醫(yī)藥工業(yè)中的系統(tǒng)穩(wěn)定性測(cè)試 (SST)，從而達(dá)到規(guī)定要求。

一體化標(biāo)準(zhǔn)

Characteristics	近紅外 NIRFlex 光纖固體高級(jí)包 (2 m)	近紅外 NIRFlex 固體高級(jí)包	近紅外 NIRFlex 液體高級(jí)包	近紅外 NIRFlex 固體透光率高級(jí)包	近紅外 NIRFlex 液體高級(jí)包
Wavenumber range	:12 500 - 4000 cm–1	:12 500 - 4000 cm–1	:12 500 - 4000 cm–1	:12500 - 6000 cm-1	:12 500 - 4000 cm–1
Sampling technique	:Diffuse reflectance / Transflectance	:Difuse reflection / Transflection	:Transmittance	:Diffuse transmittance	:Transmittance
Maximal number of samples	:1	:10	:6	:30	:1
Sample rotation	:否	:是	:是	:是	:否
Type of spectrometer	:FT-Polarization interferometer with TeO2 wedges	:FT-Polarization interferometer with TeO2 wedges	:FT-Polarization interferometer with TeO2 wedges	:FT-Polarization interferometer with TeO2 wedges	:FT-Polarization interferometer with TeO2 wedges
Type of detector	:ingaas	:ingaas	:ingaas	:ingaas	:ingaas